介電常數介質損耗測試儀特點： 

◎ 本公司創新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

 介電常數介質損耗測試儀主要技術指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率

可調電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

介電常數介質損耗測試儀概述

介電常數介質損耗測試儀對絕緣材料進行高頻介電常數和介質損耗系數（損耗角正切值）的測試。916介質損耗測試裝置采用了帶數顯的微測量裝置，因而在測試時，讀數更直觀方便，數據更精確。

介電常數介質損耗測試儀工作特性

1. 平板電容器：

極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

極片間距可調范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10^－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

介電常數介質損耗測試儀工作原理

本測試裝置主要由一個數顯的微測量裝置和一組間距可調的平板電容器組成，平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數顯的微測量裝置，用于顯示被測材料樣品的厚度。配用Q表作為調諧指示儀器，通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進材料樣品時的Q值變化，可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數。

被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要盡可能平直。

1. 注意事項：

1．            測試裝置使用結束后，請及時關閉液晶顯示屏的電源，可延長電池的壽命。如果電池發出電壓低報警，應及時更換電池保證測量的精度。電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。用工具將十字蓋冒逆時針旋轉約45°，既可取下十字蓋冒，更換電池。

2．本測試裝置是由精密機械構件組成的測微設備，所以在使用和保存時要避免振動和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環境中使用和保存，用戶不能自行拆裝，否則其工作性能就不能保證，如測試夾具受到碰撞，可以送生產廠家定期檢查，要檢測以下幾個指標：

1. 平板電容器二極片平行度在0-5mm間連續不超過0.05 mm。
2. 圓筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。