◆儀器技術(shù)指標(biāo)：
☆Q值測量：
a．Q值測量范圍：5～999。              b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動(dòng)換檔。
c．標(biāo)稱誤差
      頻率范圍：25kHz～10MHz；       固有誤差：≤5％±滿度值的2％；工作誤差：≤7％±滿度值的2％；
      頻率范圍：10MHz～50MHz；      固有誤差：≤7％±滿度值的2％；工作誤差：≤10％±滿度值的2％。
☆電感測量：
a．測量范圍：0.1μH～1H。
b．分    檔：分七個(gè)量程。
      0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH， 
      0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。
☆電容測量：
a．測量范圍：1～460pF（460pF以上的電容測量見使用規(guī)則）；
b．電容量調(diào)節(jié)范圍
      主調(diào)電容器：40～500pF；                準(zhǔn)  確  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；
      微調(diào)電容量：－3pF～0～＋3pF；      準(zhǔn)  確  度：±0.2pF。
☆振蕩頻率：
a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz；
b．頻率分檔
25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，
1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。
c．頻率誤差：2×10-4±1個(gè)字。
☆Q合格指示預(yù)置功能，預(yù)置范圍：5～999。
☆儀器正常工作條件
a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；            b．相對(duì)濕度：<80％；           c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。  
☆試樣尺寸
圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時(shí)），Φ25~35mm（ε=12~30時(shí)），Φ15~20mm（ε>30時(shí)）
☆其他
a．消耗功率：約25W；            b．凈重：約7kg；          c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
☆ Q合格指示預(yù)置功能
預(yù)置范圍：5～1000。

北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司專業(yè)北京*產(chǎn)品
介電常數(shù)儀  型號(hào)：BDAT-A
一 .概述：  介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。儀器遵從標(biāo)準(zhǔn)：GB/T5594.4-1985。

二、儀器的技術(shù)指標(biāo) 1．Q值測量  a．Q值測量范圍：5～999。  b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動(dòng)換檔。 c．標(biāo)稱誤差        頻率范圍：25kHz～10MHz；        固有誤差：≤5％±滿度值的2％；工作誤差：≤7％±滿度值的2％；       頻率范圍：10MHz～50MHz；        固有誤差：≤7％±滿度值的2％；工作誤差：≤10％±滿度值的2％。 2．電感測量  a．測量范圍：0.1μH～1H。 b．分    檔：分七個(gè)量程。        0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，        0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。 3．電容測量  a．測量范圍：1～460pF（460pF以上的電容測量見使用規(guī)則）； b．電容量調(diào)節(jié)范圍        主調(diào)電容器：40～500pF；        準(zhǔn)  確  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；       微調(diào)電容量：－3pF～0～＋3pF；       準(zhǔn)  確  度：±0.2pF。 4．振蕩頻率  a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz； b．頻率分檔：  25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。  c．頻率誤差：2×10-4±1個(gè)字。  5．Q合格指示預(yù)置功能，預(yù)置范圍：5～999。 6．儀器正常工作條件  a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃； b．相對(duì)濕度：<80％；  c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．試樣尺寸  圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時(shí)），Φ25~35mm（ε=12~30時(shí)），Φ15~20mm（ε>30時(shí)） 8．其他  a．消耗功率：約25W； b．凈重：約7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

三、實(shí)驗(yàn)步驟：  1．本儀器適用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流電，使用前要檢查市電電壓 是否合適，采用穩(wěn)壓電源，以保證測試條件的穩(wěn)定。 2．開機(jī)預(yù)熱15分鐘，使儀器恢復(fù)正常狀態(tài)后才能開始測試。  3．按部件標(biāo)準(zhǔn)制備好的陶瓷試樣，兩面用燒滲法被上銀層，并分別焊上一根 Φ0.8mm，30~40mm長的金屬引線。引線材料為銅，表面鍍銀并浸錫。 4．選擇適當(dāng)?shù)妮o助線圈插入電感接線柱。根據(jù)需要選擇振蕩器頻率，調(diào)節(jié)測 試電路電容器使電路諧振。假定諧振時(shí)電容為C1，品質(zhì)因素為Q1。 5． 將被測樣品接在“CX”接線柱上。  6．再調(diào)節(jié)測試電路電容器使電路諧振，這時(shí)電容為C2，可以直接讀出Q2，并 且Q2= Q1－△Q，。  7．用游標(biāo)卡尺量出試樣的直徑Φ和厚度d（分別在不同位置測得兩個(gè)數(shù)據(jù)， 再取其平均值）。  8.方形式樣按其邊長的4倍計(jì)算Φ值 

四、注意事項(xiàng)  1．圓片形試樣的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，兩面 燒滲銀層、浸錫及焊接引出線要符合技術(shù)條件。  2．電壓或頻率的劇烈波動(dòng)常使電橋不能達(dá)到良好的平衡，所以測定時(shí)，電壓 和頻率要求穩(wěn)定，電壓變動(dòng)不得大于1%，頻率變動(dòng)不得大于0.5%。 3．電極與試樣的接觸情況，對(duì)tanδ的測試結(jié)果有很大影響，因此燒滲銀層 電極要求接觸良好、均勻，而厚度合適。  4．試樣吸濕后，測得的tanδ值增大，影響測量精度，應(yīng)嚴(yán)格避免試樣吸潮。 5．在測量過程中，注意隨時(shí)檢查電橋本體屏蔽的情況，當(dāng)電橋真正達(dá)到平衡， “本體-屏蔽”開關(guān)置于任何一邊時(shí)，檢查計(jì)光帶均應(yīng)zui小，而無大變化。

附錄一、測試原理簡介  一、儀器的工作原理 1．“Q”的定義       Q表是根據(jù)串聯(lián)諧振原理設(shè)計(jì)，以諧振電壓的比值來定位Q值。“Q”表示元件或系統(tǒng)的“品質(zhì)因數(shù)”，其物理含義是在一個(gè)振蕩周期內(nèi)貯存的能量與損耗的能量之比。對(duì)于電抗元件（電感或電容）來說，即在測試頻率上呈現(xiàn)的電抗與電阻之比。它以89C51單片計(jì)算機(jī)作為控制核心，實(shí)現(xiàn)對(duì)各種功能的控制。壓控信號(hào)源為Q值測量提供了一個(gè)優(yōu)質(zhì)的高頻信號(hào)，頻率從25kHz-50MHz，共分為七個(gè)波段。信號(hào)源的頻率受頻率調(diào)諧和數(shù)字鎖定單元的控制。信號(hào)源輸出一路送到程控衰減器和自動(dòng)穩(wěn)幅控制單元，該單元根據(jù)CPU的指令對(duì)信號(hào)衰減后送回信號(hào)激勵(lì)單元，同時(shí)對(duì)信號(hào)檢波后送出一直流控制信號(hào)到壓控信號(hào)源實(shí)現(xiàn)自動(dòng)穩(wěn)幅。信號(hào)源的另一路輸出送到頻率計(jì)數(shù)電路，在這里完成對(duì)信號(hào)的整形，預(yù)計(jì)數(shù)，然后再送到CPU實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)。信號(hào)激勵(lì)部分輸出送到一個(gè)寬帶分壓器，由分壓器饋給測試調(diào)諧回路一個(gè)恒定幅度的信號(hào)。當(dāng)測試回路處于諧振狀態(tài)時(shí)，在調(diào)諧電容CT兩端的信號(hào)幅度將是分壓器提供的信號(hào)幅度Q倍。在CT兩端取得的調(diào)諧信號(hào)被信號(hào)放大單元適當(dāng)放大后送到檢波和數(shù)字取樣單元，檢波后經(jīng)數(shù)碼取樣轉(zhuǎn)換，送到控制中心CPU去進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，同時(shí)再送給面板Q調(diào)諧指示表。由控制中心CPU處理過的頻率值，Q值等其它需顯示數(shù)據(jù)送到顯示控制CPU，由顯示控制CPU完成面板顯示的控制。   

二、結(jié)構(gòu)特性      采用了較低的臺(tái)式機(jī)箱，面板采用PC絲印面板，美觀大方。各主要功能單元，除了顯示部分為了顯示方便和調(diào)諧測試回路、放大單元為了減小分布參數(shù)，安裝在面板上外，其余都安裝在機(jī)內(nèi)底板上。見圖三面板示意圖。面板左半部是頻率和Q值顯示，操作按鍵和頻率調(diào)諧鈕所在部位。面板右半部是調(diào)諧回路的主，付調(diào)電容所在部位。儀器的頻段控制，標(biāo)頻設(shè)定，諧振點(diǎn)搜索，Q值合格點(diǎn)設(shè)置都以輕觸按鍵實(shí)現(xiàn)控制，頻率調(diào)諧由數(shù)碼開關(guān)完成，面板上無一可調(diào)電位器，極大地簡化了操作，又提高了可靠性。 面板各功能鍵說明：  1．頻率顯示數(shù)碼管，共5位。 2．頻率單位指示燈，MHz或kHz。  3．器件Q值合格指示燈，超過已設(shè)置的值時(shí)燈亮。 4．Q值指示數(shù)碼管，共3位。  5．工作頻段選擇按鍵，每按一次，切換至低一個(gè)頻段工作。 6．工作頻段指示燈，表格內(nèi)為對(duì)應(yīng)的頻段工作頻率范圍。7．工作頻段選擇按鍵，每按一次，切換至高一個(gè)頻段工作。  8．工作頻段內(nèi)，標(biāo)準(zhǔn)測試頻率設(shè)置按鍵，各段內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)測試頻率見面板功能部分。  9．器件諧振點(diǎn)搜索按鍵，右上角指示燈亮?xí)r表示儀器正工作在自動(dòng)搜索。如 需退出搜索，再按此鍵。 10．頻率調(diào)諧數(shù)碼開關(guān)。  11．Q值合格比較值設(shè)定按鍵。 12．Q值調(diào)諧指示表。  13．對(duì)應(yīng)各工作頻段的電感測量范圍和標(biāo)準(zhǔn)測試頻率表。  14．調(diào)諧回路的付調(diào)諧電容器調(diào)諧旋鈕，它與主調(diào)諧電容并聯(lián)，旋鈕上方對(duì) 應(yīng)的窗口內(nèi)是該電容的變化范圍指示刻度盤（－3～+3P）。  15．調(diào)諧回路的主調(diào)電容調(diào)諧旋鈕，上方對(duì)應(yīng)的窗口內(nèi)為主調(diào)電容的電容值 和諧振時(shí)對(duì)應(yīng)的測試電感值刻度盤。 16．電源開關(guān)  17．測試回路接線柱，左邊兩個(gè)為電感接入端，右邊兩個(gè)為外接電容接入端。

免費(fèi)修理。  附表一  LKI-2電感組  電感No 電感量 準(zhǔn)確度% Q值≥ 分布電容約略值 10 250mH ±5 50 15pF 9 25mH ±5 70 10pF 8 5mH ±5 100 10pF 7 1mH ±5 100 14pF 6 250μH ±5 150 9pF 5 50μH ±5 150 12pF 4 10μH ±5 150 7pF 3 2.5μH ±5 150 7pF  2 0.5μH 0.05μH 200 5pF 1 0.1μH 0.05μH 100 5pF 附：在測量Q值時(shí)附加說明 3．電感組  Q表是根據(jù)串聯(lián)諧振和電壓比值原理工作的，Q表的指示Q值是包括被測件的有效Q值及測試回路固有殘量在內(nèi)的整個(gè)諧振回路有效Q值，必須用Q表測試回路殘量修正Q表的指示Q值，這是Q表測量的一個(gè)重要特點(diǎn)。  附表二  各Q值均值回路指示值Qen 和測試回路平均殘量修正系數(shù)表  線圈號(hào) 測試頻率  QeSTD-A  （No.81014） AS2851 STD-A  Qen 修正系數(shù) Qen 修正系數(shù) 1 100kHz 114 104.5 0.91 108.7 0.95  2 400kHz 135 125 0.93 135 1 3  1MHz 134 131.3 0.98 134 1 4  2MHz 154 150.9 0.98 149.9 0.97  4.5MHz 183 175.7 0.96 175.9 0.96 5  4.5MHz 170 166.6 0.98 160.2 0.94  12MHz 237 213.3 0.9 215.6 0.91 6  12MHz 234 215.3 0.92 180.3 0.77  25MHz 305 265.4 0.87 255.6 0.84 7  25MHz 218 193.5 0.89 163.5 0.75  50MHz 257 224.5 0.87 235.1 0.91Qe：標(biāo)準(zhǔn)有效Q值  在一般情況下，Q表作為低精度儀器使用或利用Q表對(duì)線圈作比較測量時(shí)，可不必對(duì)殘量的影響進(jìn)行修正。  Q值測量誤差可按Q值參考標(biāo)準(zhǔn)不同分為二類。  我廠采用的一種是以Q表生產(chǎn)廠家所提供并經(jīng)計(jì)量部門審核的均值回路標(biāo)準(zhǔn)指示值Qen為參考標(biāo)準(zhǔn)，Q表指示Q值Qi的相對(duì)誤差由下式表示：  δQi=[（Qi-Qen）÷Qen]× 100％  式中Qi為標(biāo)有Qen值標(biāo)準(zhǔn)量具在Q表上的實(shí)際指示值。 注：修正系數(shù)主要用于用戶測量一個(gè)器件Q值時(shí)，根據(jù)指示的Qi值換算出較準(zhǔn)礎(chǔ)的Q值。 

五、產(chǎn)品的交收檢驗(yàn) 1．檢驗(yàn)環(huán)境要求：  a．環(huán)境溫度：20℃±2℃  相對(duì)濕度<50％； b．供電電源：220V±10V  50Hz±1Hz。 2．檢驗(yàn)設(shè)備要求：  a．設(shè)備應(yīng)在計(jì)量后的有效使用期內(nèi)3．Q值指示檢驗(yàn)  a．檢驗(yàn)設(shè)備：WGSTD-A標(biāo)準(zhǔn)線圈一套；  b．把標(biāo)準(zhǔn)Q值線圈接入WGSTD-A電感接線柱上； c．選擇標(biāo)準(zhǔn)Q值線圈所規(guī)定的檢定頻率；  d．WGSTD-A表的Q值讀數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)線圈的本機(jī)均值，Qen 間的相對(duì)誤差應(yīng)符合二.1.C條固有誤差所規(guī)定。 本機(jī)均值系數(shù)見附表二。 4．調(diào)諧電容器準(zhǔn)確度檢驗(yàn) a. 測試時(shí)應(yīng)斷開Q表電源；  b．設(shè)備連接如圖五所示，連接線應(yīng)盡量短，盡可能減小分布電容；                     圖五 c．電容測試儀技術(shù)指標(biāo)     測試范圍：30-550pF、±5pF；     測試精度：30-550pF±0.1％、±5pF±0.05pF；  d．調(diào)諧電容器刻度盤上指示值與電容測試儀指示值之間誤差應(yīng)符合二.3.b條規(guī)定。  5．頻率指示誤差檢驗(yàn) a．設(shè)備連接如圖六所示 b．從后面板的頻率監(jiān)測端用BNC電纜連至頻率計(jì)數(shù)器輸入端； c．頻率計(jì)數(shù)器技術(shù)要求     測量范圍：10Hz-100MHz；    測量誤差：<1×10-6；    測量靈敏度：<30mV；  d．測試線要求：高頻電纜$YV-50-3；  e．Q表頻率指示值與頻率計(jì)數(shù)器讀數(shù)值間的誤差應(yīng)符合二.4.C條規(guī)定。介電常數(shù)測試儀操作說明  操作步驟：  1、清點(diǎn)步件，確認(rèn)測試儀器一臺(tái)，試樣夾具一個(gè)，雙接頭導(dǎo)線一根，不同電 感值的電感9個(gè)。如下圖:         2、接通測試儀器電源并開啟儀器使儀器預(yù)熱15分鐘。   3、在儀器預(yù)熱15分鐘過程中準(zhǔn)備好試樣，試樣要求為：厚度2+0.5mm，直 徑為Φ30~40mm（ε<12時(shí)），Φ25~35mm（ε=12~30時(shí)），Φ15~20mm（ε>30時(shí)），如果樣品表面有屏蔽層，請?zhí)蕹帘螌樱瑫r(shí)試樣表面要做到平整。   4、連接測試儀器與試樣夾具間的導(dǎo)線，測試儀器這邊導(dǎo)線應(yīng)插在標(biāo)示為接電 容的插孔內(nèi)，試樣夾具這邊則應(yīng)接在夾具上突出兩個(gè)銅極上，接時(shí)先將夾具夾緊。如下圖圖示，但夾緊試樣時(shí)勿放入試樣。                 5、選擇一個(gè)電感值較小的電感，將其接在測試儀器標(biāo)有電感圖示的處。      6、調(diào)整測試儀器頻率值為與所接電感匹配的頻率值，如果不知該值為多少， 試樣夾具     導(dǎo)線      測試儀器頂部接線處     銅極     試樣     接電感      試樣夾具     電感      導(dǎo)線     測試儀       可在接好電感后，調(diào)節(jié)儀器面板主調(diào)電容，使其對(duì)應(yīng)指針指示在250左右，接著按一下測試儀器面板上的“搜索”按鈕，此時(shí)搜索指示燈點(diǎn)亮，儀器自動(dòng)匹配頻率值，當(dāng)匹配完成后，搜索指示燈熄滅，儀器zui終顯示匹配值。               7、找C1與Q1：調(diào)節(jié)儀器面板上的主調(diào)電容，可從小至大微調(diào)，同時(shí)觀察面 板上Q值顯示值，當(dāng)Q值顯示為zui大時(shí)，再調(diào)節(jié)儀器面板上微調(diào)電容，再次確認(rèn)Q值為zui大值后記錄下當(dāng)前Q值，同時(shí)記錄下主調(diào)電容與微調(diào)電容指針?biāo)笖?shù)據(jù)之和C值。記錄的C值與Q值即是Q1與C1值。   8、斷開試樣夾具上所接導(dǎo)線，松開夾具，放入試樣，再夾緊夾具，接好導(dǎo)線。 zui終接線如下圖所示        9、找C2與Q2：重復(fù)前面第7步，找對(duì)應(yīng)的C值與Q值，所記數(shù)據(jù)即為C2 值與Q2值。  10、 數(shù)據(jù)處理：將所記數(shù)據(jù)代入公式，得出測試結(jié)果

Dielectric constant dielectric loss tester to meet standards: GBT 1409-2006 measurement of electrical insulating materials at power, audio frequency, high frequency （ including meter wavelengths ） of the permittivity and dielectric loss factor of the recommended method
One, the dielectric constant dielectric loss tester overview
GDAT frequency Q table as the latest generation of universal, multi-purpose, multiple range impedance test apparatus, test frequency to achieve the highest domestic 160MHz.
GDAT HF Q meter employs a number of leading technology:
Double scan technique - testing frequency and tuning capacitor double scanning, automatic tuning the search function.
Double test element input - testing frequency and tuning capacitor value can be via a digital key input.
Dual digital tuning - digital frequency tuning, digital tuning capacitor.
Automatic measurement technology - on test implementation of Q value, resonant frequency and capacitance measurement.
The parameters of liquid crystal display, digital display main capacitor, inductance, Q value, signal source frequency, resonant pointer.
DDS direct digital synthesis signal source to ensure that the source of high frequency Baozhen, high precision, high stability margin.
Computer automatic correction and test loop optimization - make test loop residual inductance to a minimum, the complete eradication of Q reading values at different frequencies to be amended puzzle.
Gdat HF Q form innovation design, no doubt for the high frequency components of the impedance measurement provides the perfect solution, it gives in high-frequency electronic design engineers, researchers, university laboratory and electronics manufacturing industry to provide a more convenient detection tool
Measurement, measuring is more accurate, more efficient. The user can at any given frequency apparatus, arbitrary point tuning capacitance detection device without attention to quality, range and conversion unit.
One, the dielectric constant dielectric loss tester overview
Dielectric loss and dielectric constant are all kinds of porcelain, porcelain, ceramic capacitor device, and composite materials is an important physical properties, by measuring the dielectric loss tangent of dielectric constant （ Tan δ andε）, to further understand the effects of dielectric loss and dielectric constant of the various factors, in order to improve the material the property basis; instrument basic principle is the use of high frequency resonance method, and provides, universal, multi-purpose, multiple range impedance test. It uses single-chip computer as the control core of measuring instrument, using the frequency locking, frequency standard test point automatic setting, resonant point automatic search, Q value range automatic conversion, numerical display and other new technology, improved the tuning circuit, the tuning circuit for testing the residual inductance is reduced to the minimum, and retains the original Q table in the automatic amplitude stabilizer technology, makes the new instrument in the use of more convenient, measurement is more accurate. Instrument in high frequency test conditions, measurement of high frequency inductive or resonant loop of the Q value, the inductance of the inductor is the amount and distribution of capacitance, capacitance and loss angle tangent value of electrical materials, dielectric loss in high frequency, high frequency circuit in parallel and series resistance, the characteristic impedance of the transmission line and so on.
The apparatus used in scientific research institutions, schools, factories and other units to inorganic metalloid new material property application research.
Main technical characteristics
Q measurement range of 2 ~ 1023, range profile: 30, 100, 300, 1000, automatic or manual shift
Inherent error≤5% ±full scale value of 2% （ 200kHz ～10MHz ）, 6%±full scale value of 2% （ 10MHz ～160MHz ）
Operating error≤7% ±full scale value of 2% （ 200kHz ～10MHz ）, 8%±full scale value of 2% （ 10MHz ～160MHz ）
Inductance measuring range of 4.5nH～ 140mH
Capacitance measuring range 1～ 200pF
The main capacitor regulation range 18～ 220pF
The main capacitor regulation accuracy below 100pF± 1pF±1%; 100pF
Signal source frequency coverage range of 100kHz～ 160MHz
Frequency segmentation （ virtual ） 100～ 999.999kHz, 1～ 9.99999MHz, 10～ 99.9999MHz, 100～ 160MHz
Frequency indication error of 3× 10 -5±1 words
With a new dielectric dissipation device with GDAT Series Q table use
A. An overview
BD916 dielectric loss test device and the company's production of various high-frequency Q matching table, can be used to measure the insulating material of the permittivity and dielectric dissipation factor （ Tan ）.
BD916 dielectric loss test device is the replacement of BD916914, it uses a number of microscope measuring device, so the reading is convenient, accurate data.
The test device consists of a LCD digital display device for measuring and a pair of spaced adjustable flat plate capacitor pole pieces.
Flat capacitor polar plate for holding the material to be measured sample, micro measuring device would display the measured sample of the material thickness.
BD916 dielectric loss test device shall be equipped with the Q table as a tuning indicator instrument, through the tested samples of materials into the panel capacitor and do not put it in the sample when the variation of Q value, the measured dielectric material loss angle tangent value.
From the panel capacitor plate spacing reading variation can be calculated in terms of dielectric material.
BD916 dielectric loss test device technical characteristics
Flat capacitor: pole piece size:Φ 50mm/Φ 38mm optional
Pole spacing adjustable range:≥ 15mm
The 2 clamp plug spacing: 25mm± 0.01mm
The 3 fixture loss tangent value ≤ 4× 10-4 （ 1MHz ）
4 micrometer rod resolution: 0.001mm
Inductance:
Coil test frequency distributions of Q values of P inductance capacitance
9 100KHz 989.4 25mH
8 400KHz 13811.4 4.87mH
7 400KHz 20216 0.99mH
6 1MHz 19613252 μ H
5 1988.7 49.8 μ H 2MHz
4 4.5MHz 231710 μ H
3 1936.9 2.49 μ H 12MHz
2 2296.4 0.508 μ H 12MHz
1 25MHz, 0.125μ H 50MHz 2332110.9
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